Nasze serwisy używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Więcej informacji odnośnie plików cookies.

Obowiązek informacyjny wynikający z Ustawy z dnia 16 listopada 2012 r. o zmianie ustawy – Prawo telekomunikacyjne oraz niektórych innych ustaw.

Wyłącz komunikat

 
 
politechnika
Laboratorium Metrologii Technicznej
W laboratorium metrologii technicznej przeprowadzane są zajęcia z zakresu podstaw metrologii i systemów pomiarowych.
 
 
 
Widok laboratorium metrologii technicznej
 
Laboratorium wyposażone jest w narzędzia pomiarowe renomowanej firmy Mahr. Poza podstawowymi narzędziami suwmiarkowymi, mikrometrycznymi i czujnikami studenci mają możliwość zapoznania się z wysoce dokładnymi przyrządami pomiarowymi jakimi są:
 
mikroskop InfiniteFocus Real 3D umożliwiający optyczny pomiar 3D z rozdzielczością ponową do 10nm. Trójwymiarowy obraz mierzonej części uzyskiwany jest dzięki jej obrotowi podczas pomiaru o 360º. Mikroskop ten wykorzystywany jest przede wszystkim do pomiarów przedmiotów o złożonej geometrii, np. narzędzi skrawających, gwintów. 
Oprogramowanie mikroskopu umożliwia m.in. porównanie danych z pomiaru z modelem CAD, pomiar odchyłek kształtu od modelu geometrycznego, pomiar konturu 3D, a także promienia krawędzi i kąta krawędzi,
 
  
 
mikroskop optyczny iNEXIV z dodatkową sondą stykową firmy Renishaw, który daje możliwość połączenia pomiarów stykowych i bezstykowych w jednym planie pomiarowym. Tworzenie programów odbywa się w toku programowana uczącego.
Ustawianie ostrości dokonuje się automatycznie za pomocą systemu Vision AF lub Laser AF. Laser AF umożliwia również przeprowadzenie pomiarów w osi Z. Zakres pomiarowy mikroskopu wynosi 250 x 200 x 200mm. System optyczny daje powiększenie na ekranie od 12 do 120x. Wyniki pomiarów podawane są z dokładnością do 0,1μm.
 
 
 
 Mikroskop optyczny iNEXIV
 
okrągłościomierz MarForm MMQ 400 przeznaczony do pomiarów elementów wykazujących symetrię obrotową. Okrągłościomierz wyposażony jest w stolik centrująco-wychylny, który umożliwia automatyczne centrowanie mierzonej części. MarForm MMQ400 daje możliwość pomiaru średnic, kątów stożka, a także odchyłek kształtu i położenia,
 
 
 
  
 
 
konturograf MarSurf XC 20 przeznaczony do pomiarów profili w trybie automatycznym. MarSurf XC20 pozwala m.in. na porównanie profilu z nominałem oraz zadanym polem tolerancji. Zastosowanie podwójnej końcówki umożliwia pomiar naprzeciwległych profili, np. obustronny pomiar zarysu gwintu.
 
 
 Konturograf MarSurf XC 20
 
Pomiar parametrów struktury geometrycznej powierzchni przeprowadzany jest na:
 
profilometrze 3D MarSurf XR 20 realizującym pomiary topografii powierzchni metodą stykową. Oprogramowane MarWin umożliwia obliczenie parametrów profilu, falistości oraz chropowatości powierzchni. Rozdzielczość pionowa profilometru zależy od zakresu pomiarowego i może wynosić od 0,5nm dla zakresu ±25μm do 50nm dla zakresu ±2500μm,
 
  
Profilometr 3D MarSurf
 
profilometrze 3D Talyscan 150, który umożliwia przeprowadzanie pomiarów chropowatości powierzchni metodą stykową oraz bezstykową. Rozdzielczość pionowa wynosi 0,6 μm przy pomiarze stylusem i 1 μm przy pomiarze za pomocą lasera.
 
 
Profilometr 3D TalyScan
 
 
Opracowała: A. Bazan

Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji
ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów,
budynek C