Strona: Laboratorium metrologii technicznej / Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji

A  A+ A++

Centralna Usługa Uwierzytelniania CAS
Konta studenckie i pracownicze PRz

Pozostali użytkownicy

Zaloguj
  • PL
  • EN

Laboratorium metrologii technicznej

Na zdjęciu znajduje się logo laboratorium metrologii technicznej

W Laboratorium metrologii technicznej przeprowadzane są zajęcia dydaktyczne z następujących przedmiotów:
  • Miernictwo i systemy pomiarowe;
  • Podstawy metrologii;
  • Metrologia;
  • Metrologia techniczna i systemy pomiarowe.

Na zdjęciu znajduje się widok na laboratorium metrologii technicznej

Nazwa urządzenia Zdjęcie Opis możliwości pomiarowych Osoba do kontaktu
Mikroskop InfiniteFocus – Alicona Na zdjęciu znajduje się Mikroskop optyczny 3Dsystem infiniteFocus - Alicona

- pomiary topografii powierzchni (analiza 2D i 3D, analiza chropowatości powierzchni);
- digitalizacja i pomiary elementów o złożonej geometrii (np. narzędzi skrawających);
- pomiary geometrii krawędzi (w tym promienia zaokrąglenia);
- porównanie z geometrią nominalną;
- analiza objętości – powyżej/poniżej powierzchni odcięcia;
- analiza widoków 2D.

 mgr inż. Jacek Misiura
Mikroskop iNEXIV Na zdjęciu znajduje się Mikroskop optyczny iNEXIV

- zakres pomiarowy 250x200x200;
- dodatkowo wyposażony w głowicę stykową;
- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych wyrobów 2D;
- digitalizacja obiektów 2D.

 mgr inż. Jacek Misiura
Okrągłościomierz MMQ 400 Na zdjęciu znajduje się System do pomiaru odchyłek kształtu i położenia MMQ 400

- stykowe pomiary wielkości geometrycznych,
- pomiary odchyłek geometrycznych.

 mgr inż. Jacek Misiura
Profilometr XR 20 Na zdjęciu znajduje się System do pomiaru chropowatości, falistości i topografii powierzchni XR 20

- pomiary chropowatości powierzchni;
- pomiary falistości powierzchni.

 mgr inż. Jacek Misiura
Konturograf XC 20 Na zdjęciu znajduje się System do pomiaru konturów XC 20

- stykowe pomiary wielkości geometrycznych,
- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych.

 mgr inż. Jacek Misiura
Ramię pomiarowe MCA II wyposażone w stykową i bezstykową głowicę pomiarową Na zdjęciu znajduje się Przenośne ramię pomiarowe

- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych wyrobów;
- digitalizacja obiektów;
- pomiary wyrobów o regularnych kształtach geometrycznych;
- pomiary powierzchni krzywoliniowych przedmiotów.

 dr inż. Paweł Turek
Profilometr 3D TalyScan 150
 Na zdjęciu znajduje się Profilometr 3D TalyScan 150 - pomiary stykowe i bezstykowe;
- pomiary chropowatości powierzchni;
- pomiary falistości powierzchni.		 mgr inż. Jacek Misiura

Powrót to głównej strony LABORATORIA

Nasze serwisy używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Więcej informacji odnośnie plików cookies.